BX系列是50MHz或100MHz內存老化測試儀，集成200MHz模式發(fā)生器、定時發(fā)生器和格式化器，提供測試程序開發(fā)工具和數(shù)據(jù)分析工具

產(chǎn)品特性

• 支持DRAM、NAND閃存和PRAM 

• 50MHz以下

• 全功能測試 

• 40℃至+125℃

• 靈活的每個siteBI測試

• 自動化接口開放

系統(tǒng)規(guī)格

• -尺寸：3400（W）×1800（D）×2153（H）mm 

• -重量：3.2噸

• -區(qū)域： 4

• -每個區(qū)域插槽：8

• -時鐘速率范圍：高達50MHZ

• -通道/槽：主PPS 8CH（PPS 1,2,4,5,6,7,8,9）/HV PPS 3Ch（PPS3， PPS10，PPS11）

• -總電流：363A

• -溫箱類型：雙溫箱

• -箱體功率：高達5.5千瓦